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二极管执行单点通过/失败DC测试

2018-07-10 | 浏览量: 67 江苏佑风微电子股份有限公司
文章标签:二极管执行单点测试

  为确保符合制造规范,必须对封装的二极管执行单点通过/失败DC测试,由于这些测试用于在发货前识别和移除有缺陷的设备,因此它们的可靠性对于保证产品质量非常重要。此外,快速执行测试以保持高产量也很重要。
  
  B2901/02/11/12A精密光源/测量单元满足所有这些要求,使其成为二极管生产测试的最佳解决方案。它是一款紧凑且经济高效的台式电源/测量单元(SMU),具有电源和电压测量功能。它们涵盖10fA至3A(DC)/10.5A(脉冲)和100nV至210V电压。
  
  除了这些综合测量功能外,B2900A系列SMU还具有高吞吐量,可缩短测试时间。B2900A系列的GPU还具有许多功能,使其非常适合生产测试,例如通过/故障锁定,用于处理程序控制的数字I/O接口,以及代码兼容性,可承受单通道和双通道SMU产品。

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